Camera di prova WBE-KSH1000/Rapid Temperature Change

Il pezzo di prova può essere sottoposto a test di stress termico (ESS), screening di temperatura e umidità, test di affidabilità, ecc. Le velocità di rampa di temperatura comunemente utilizzate sono 5 °C/min, 10 °C/min, 15 °C/min, 20 °C/min e 25 °C/min.

Aree di applicazione:

Chip semiconduttori, istituti di ricerca scientifica, ispezione di qualità, nuova energia, comunicazioni optoelettroniche, industria aerospaziale e militare, industria automobilistica, display LCD, industrie mediche e altre industrie tecnologiche.

Standard di prova:

Metodo di prova a bassa temperatura GB/T 2423.1, Metodo di prova ad alta temperatura GJB 150.3, Metodo di prova ad alta temperatura GB/T 2423.2, Test a bassa temperatura GJB 150.4, Metodo di prova del ciclo di umidità GB/T2423.34, Metodo di prova dell'umidità GJB 150.9, Metodo di prova di temperatura e umidità IEC60068-2, Metodo di prova dell'umidità MIL-STD-202G-103B

Caratteristiche del prodotto:

1. Il prodotto soddisfa i requisiti di rampa di temperatura sia lineari che non lineari.
2. Soddisfa i requisiti di velocità di rampa di temperatura da 5°C/min a 30°C/min.
3. Le caratteristiche opzionali includono azoto liquido, calore umido e anticondensa.
4. Utilizzando la tecnologia della valvola di espansione elettronica e un innovativo sistema di controllo, il prodotto raggiunge un risparmio energetico superiore al 45%.